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X-4显微熔点仪技术参数
★ 熔点测量范围：室温至320℃，最高可达360℃
★ 测量重复性：±1℃（在<200℃时）；±2℃（在200～300℃时）
★ 光学放大倍数：目镜10X；物境4X
X-4显微熔点仪主要特点
◆ LED数字显示熔点温度值，升温速率连续可调。
◆ 既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
◆ X-4显微熔点仪采用热台控制系统和显微镜合成一体的结构，简单可靠，使用方便。
X-4显微熔点仪用途说明
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。
X-4显微熔点仪订货信息
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产品编号
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产品名称
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描述
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市场价
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优惠价
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D05001-005
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显微熔点仪
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型号：X-4，熔点测定范围：室温~360℃；光学放大倍数：目镜10X；物境4X；LED数字显示熔点温度值
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